International Test Solutions (Q800): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Aussage geändert: wikidata item (P6): http://www.wikidata.org/entity/Q118299155)
 
(10 dazwischenliegende Versionen von einem anderen Benutzer werden nicht angezeigt)
Bezeichnung / deBezeichnung / de
International Test Solustions
International Test Solutions
Bezeichnung / enBezeichnung / en
 
International Test Solutions
Beschreibung / enBeschreibung / en
 
American semiconductor company
Eigenschaft / typ: Integrated Device Manufacturer / Fundstelle
 
quelle: https://www.inttest.net/company/
abgerufen: 26. Oktober 22
Zeitstempel+0022-10-26T00:00:00Z
Zeitzone+00:00
KalenderJulianisch
Genauigkeit1 Tag
Vor0
Nach0
Eigenschaft / bietet Dienstleistung anEigenschaft / bietet Dienstleistung an
Eigenschaft / bietet Dienstleistung an
 
Eigenschaft / bietet Dienstleistung an: Prüfung / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / bietet Dienstleistung an
 
Eigenschaft / bietet Dienstleistung an: Foundry Service / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / hat Standort
 
Eigenschaft / hat Standort: International Test Solutions Reno Fab / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / hat Standort: International Test Solutions Reno Fab / Fundstelle
 
quelle: https://www.inttest.net/contact/
abgerufen: 26. Oktober 22
Zeitstempel+0022-10-26T00:00:00Z
Zeitzone+00:00
KalenderJulianisch
Genauigkeit1 Tag
Vor0
Nach0
Eigenschaft / wikidata item
 
Eigenschaft / wikidata item: http://www.wikidata.org/entity/Q118299155 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 19. Juni 2023, 09:21 Uhr

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
International Test Solutions
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen

    Aussagen