International Test Solutions (Q800): Unterschied zwischen den Versionen
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Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: typ (P5): Integrated Device Manufacturer (Q285)) |
Admin (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: wikidata item (P6): http://www.wikidata.org/entity/Q118299155) |
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| Eigenschaft / hat Standort | |||||||||||||||
| Eigenschaft / hat Standort: International Test Solutions Reno Fab / Rang | |||||||||||||||
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| Eigenschaft / hat Standort: International Test Solutions Reno Fab / Fundstelle | |||||||||||||||
quelle: https://www.inttest.net/contact/ abgerufen: 26. Oktober 22
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| Eigenschaft / wikidata item | |||||||||||||||
| Eigenschaft / wikidata item: http://www.wikidata.org/entity/Q118299155 / Rang | |||||||||||||||
Normaler Rang | |||||||||||||||
Aktuelle Version vom 19. Juni 2023, 09:21 Uhr
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
International Test Solutions
|
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen
|
Aussagen
Eine Fundstelle
26. Oktober 22
Eine Fundstelle
26. Oktober 22