STMicroelectronics Assembly/Test Kirkop (Q353): Unterschied zwischen den Versionen

Aktuelle Version vom 26. Juni 2024, 08:55 Uhr

Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	STMicroelectronics Assembly/Test Kirkop	Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

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+Montage/Test Standort
@@ Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang @@
+Normaler Rang
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+http://www.wikidata.org/entity/Q597464
@@ Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q597464 / Rang @@
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