Micron Assembly/Test Xian (Q330): Unterschied zwischen den Versionen

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(‎Bezeichnung für [de] geändert: Micron Assembly/Test Xian)
(‎Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q5826)
 
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Beschreibung / deBeschreibung / de
Standort zur Halbleiterfertigung von Micron
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
Eigenschaft / typEigenschaft / typ
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q5826 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 15:59 Uhr

Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Micron Assembly/Test Xian
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

    Aussagen