Fujitsu Assembly/Test Aizu (Q412): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Ein neues Datenobjekt erstellt: Fujitsu Assembly/Test Aizu, Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern)
 
(‎Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q237699)
 
(2 dazwischenliegende Versionen von 2 Benutzern werden nicht angezeigt)
Eigenschaft / typ
 
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q237699 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 16:20 Uhr

Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Fujitsu Assembly/Test Aizu
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

    Aussagen