Nexperia Assembly/Test Seremban (Q429): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
(Ein neues Datenobjekt erstellt: Nexperia Assembly/Test Seremban, Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q847610) |
||
(2 dazwischenliegende Versionen von 2 Benutzern werden nicht angezeigt) | |||
Eigenschaft / typ | |||
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q847610 / Rang | |||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 16:28 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Nexperia Assembly/Test Seremban
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|