Tongfu Microelectronics Assembly/Test Penang (Q934): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Ein neues Datenobjekt erstellt: Tongfu Microelectronics Assembly/Test Penang) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q4874282) |
||||||||||||||
(4 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||||||||||||||
Beschreibung / de | Beschreibung / de | ||||||||||||||
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics | |||||||||||||||
Eigenschaft / typ | |||||||||||||||
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||||||||||||||
Normaler Rang | |||||||||||||||
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Fundstelle | |||||||||||||||
quelle: http://2110205058.pool203-site.make.yun300.cn/contact.html abgerufen: 22. März 2023
| |||||||||||||||
Eigenschaft / gelegen in | |||||||||||||||
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q4874282 / Rang | |||||||||||||||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:13 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Tongfu Microelectronics Assembly/Test Penang
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics
|
Aussagen
Eine Fundstelle