Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Binjiang (Q883): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Bezeichnung für [en] hinzugefügt: JCET Assembly/Test Binjiang) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q13985303) |
||
(2 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||
Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Binjiang | |||
Bezeichnung / en | Bezeichnung / en | ||
Eigenschaft / gelegen in | Eigenschaft / gelegen in | ||
Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:28 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Binjiang
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
|