Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Suqian (Q885): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Ein neues Datenobjekt erstellt: JCET Assembly/Test Suqian)
 
(‎Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q57787)
 
(7 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt)
Bezeichnung / deBezeichnung / de
JCET Assembly/Test Suqian
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Suqian
Beschreibung / deBeschreibung / de
 
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Eigenschaft / typ
 
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q57787 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:29 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Suqian
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

    Aussagen