Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Incheon (Q887): Unterschied zwischen den Versionen

Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:29 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Incheon	Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

0 Fundstellen

0 Fundstellen

@@ Bezeichnung / de / Bezeichnung / de @@
-JCET Assembly/Test Incheon
+Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Incheon
@@ Beschreibung / de / Beschreibung / de @@
+Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
@@ Eigenschaft / typ @@
+Montage/Test Standort
@@ Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang @@
+Normaler Rang
@@ Eigenschaft / gelegen in @@
+http://www.wikidata.org/entity/Q20934
@@ Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q20934 / Rang @@
+Normaler Rang