AT Semicon Assembly/Test Icheon (Q975): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Beschreibung für [de] hinzugefügt: Standort für Assembly & Test von Halbleitern von AT Semicon) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q42136) |
||
(2 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||
Eigenschaft / typ | |||
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q42136 / Rang | |||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 5. Juli 2024, 19:12 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von AT Semicon
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
AT Semicon Assembly/Test Icheon
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von AT Semicon
|