Micron Assembly/Test Xian (Q330): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
(Aussage geändert: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: gelegen in (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q5826) |
||
| Eigenschaft / gelegen in | |||
| Eigenschaft / gelegen in: https://www.wikidata.org/entity/Q5826 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Version vom 20. September 2022, 12:42 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Micron Assembly/Test Xian
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|