Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Binjiang (Q883): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Bezeichnung für [de] geändert: JCET Assembly/Test Binjiang) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Bezeichnung für [en] entfernt: JCET Assembly/Test Binjiang) |
||
| (3 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||
| Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Binjiang | |||
| Beschreibung / de | Beschreibung / de | ||
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET | |||
Version vom 15. März 2023, 14:45 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Binjiang
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
|