3DiS Technologies Assembly/Test Labège (Q1012): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Ein neues Datenobjekt erstellt: 3DiS Technologies Assembly/Test Labège)
 
(‎Beschreibung für [de] hinzugefügt: Standort für Assembly & Test von Halbleitern von 3DiS Technologies)
 
(2 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt)
Beschreibung / deBeschreibung / de
 
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von 3DiS Technologies
Eigenschaft / typ
 
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / gelegen in Stadt
 
Eigenschaft / gelegen in Stadt: https://www.wikidata.org/entity/Q1467149 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 22. März 2023, 15:20 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von 3DiS Technologies
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
3DiS Technologies Assembly/Test Labège
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von 3DiS Technologies

    Aussagen