Montage/Test Standort (Q298): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Admin (Diskussion | Beiträge) (Ein neues Datenobjekt erstellt: Montage/Test Standort, Standort zur Montage und/oder Test von Halbleitern) |
Admin (Diskussion | Beiträge) (Beschreibung für [en] geändert: Site of a company used for assembly and/or testing of semiconductors) |
||
(4 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||
Bezeichnung / en | Bezeichnung / en | ||
Assembly/Test Facility | |||
Beschreibung / en | Beschreibung / en | ||
Site of a company used for assembly and/or testing of semiconductors | |||
Eigenschaft / typ | |||
Eigenschaft / typ: Klasse / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Eigenschaft / sub Klasse von | |||
Eigenschaft / sub Klasse von: Produktions-Standort / Rang | |||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 26. Juli 2022, 13:50 Uhr
Standort zur Montage und/oder Test von Halbleitern
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Montage/Test Standort
|
Standort zur Montage und/oder Test von Halbleitern
|