Micron Assembly/Test Muar (Q325): Unterschied zwischen den Versionen

Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 15:59 Uhr

Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	Micron Assembly/Test Muar	Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

0 Fundstellen

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@@ Bezeichnung / de / Bezeichnung / de @@
-Micron Muar Fab
+Micron Assembly/Test Muar
@@ Beschreibung / de / Beschreibung / de @@
-Standort zur Halbleiterfertigung von Micron
+Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
@@ Eigenschaft / typ @@
+Montage/Test Standort
@@ Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang @@
+Normaler Rang
@@ Eigenschaft / gelegen in @@
+http://www.wikidata.org/entity/Q1832744
@@ Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q1832744 / Rang @@
+Normaler Rang