Micron Assembly/Test Muar (Q325): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
(Aussage geändert: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q1832744) |
||
| (2 dazwischenliegende Versionen von 2 Benutzern werden nicht angezeigt) | |||
| Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Micron Assembly/Test Muar | |||
| Eigenschaft / gelegen in | |||
| Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q1832744 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 15:59 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Micron Assembly/Test Muar
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|