STMicroelectronics Assembly/Test Muar (Q356): Unterschied zwischen den Versionen

Aktuelle Version vom 26. Juni 2024, 08:56 Uhr

Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	STMicroelectronics Assembly/Test Muar	Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

0 Fundstellen

0 Fundstellen

@@ Eigenschaft / typ @@
+Montage/Test Standort
@@ Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang @@
+Normaler Rang
@@ Eigenschaft / gelegen in @@
+http://www.wikidata.org/entity/Q1832744
@@ Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q1832744 / Rang @@
+Normaler Rang