Onsemi Assembly/Test Carmona (Q370): Unterschied zwischen den Versionen
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(Ein neues Datenobjekt erstellt: Onsemi Assembly/Test Carmona, Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in Stadt (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q6728869) |
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| Eigenschaft / typ | |||
| Eigenschaft / typ: Chip Fabrik / Rang | |||
Normaler Rang | |||
| Eigenschaft / gelegen in Stadt | |||
| Eigenschaft / gelegen in Stadt: http://www.wikidata.org/entity/Q6728869 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 16:08 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Onsemi Assembly/Test Carmona
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Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
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