Qorvo Assembly/Test Dezhou (Q385): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
(Aussage erstellt: typ (P5): Chip Fabrik (Q297)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q162880) |
||
(2 dazwischenliegende Versionen von 2 Benutzern werden nicht angezeigt) | |||
Eigenschaft / typ | |||
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q162880 / Rang | |||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 16:11 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Qorvo Assembly/Test Dezhou
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|