Renesas Assembly/Test Nishiki (Q420): Unterschied zwischen den Versionen

Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 16:24 Uhr

Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	Renesas Assembly/Test Nishiki	Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern

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+Montage/Test Standort
@@ Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang @@
+Normaler Rang
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+http://www.wikidata.org/entity/Q1184741
@@ Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q1184741 / Rang @@
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