Advanced Semiconductor Engineering Assembly/Test Kaohsiung (Q881): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Ein neues Datenobjekt erstellt: Advanced Semiconductor Engineering Kaohsiung Fab, Standort für Assembly & Test von Halbleitern von ASE)
 
(‎Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q181557)
 
(3 dazwischenliegende Versionen von einem anderen Benutzer werden nicht angezeigt)
Bezeichnung / deBezeichnung / de
Advanced Semiconductor Engineering Kaohsiung Fab
Advanced Semiconductor Engineering Assembly/Test Kaohsiung
Eigenschaft / typ
 
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q181557 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 5. Juli 2024, 18:50 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von ASE
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Advanced Semiconductor Engineering Assembly/Test Kaohsiung
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von ASE

    Aussagen