Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Chuzhou (Q884): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Beschreibung für [de] hinzugefügt: Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q114045) |
||
| (Eine dazwischenliegende Version desselben Benutzers wird nicht angezeigt) | |||
| Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Chuzhou | |||
| Eigenschaft / gelegen in | Eigenschaft / gelegen in | ||
Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:29 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Chuzhou
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
|