3DiS Technologies (Q925): Unterschied zwischen den Versionen

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@@ Eigenschaft / wikidata item / Eigenschaft / wikidata item @@
-https://www.wikidata.org/
+http://www.wikidata.org/entity/Q117264242
@@ Eigenschaft / hat Standort @@
+DiS Technologies  Assembly/Test Labège
@@ Eigenschaft / hat Standort: 3DiS Technologies Assembly/Test Labège / Rang @@
+Normaler Rang
+quelle: https://www.3dis-tech.com/#contact
abgerufen: 22. März 2023Zeitstempel +2023-03-22T00:00:00Z
Zeitzone +00:00
Kalender Gregorianisch
Genauigkeit 1 Tag
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-Zeitstempel
++2023-03-22T00:00:00Z
-Zeitzone
++00:00
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Aktuelle Version vom 27. April 2023, 14:37 Uhr

Französisches Halbleiterunternehmen

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	3DiS Technologies	Französisches Halbleiterunternehmen

Aussagen

Outsourced Semiconductor Assembly and Test

Eine Fundstelle

https://www.3dis-tech.com/#technology

21. März 2023

http://www.wikidata.org/entity/Q117264242

0 Fundstellen

bietet Dienstleistung an

Eine Fundstelle

https://www.3dis-tech.com/services/development/

21. März 2023

3DiS Technologies Assembly/Test Labège

Eine Fundstelle

https://www.3dis-tech.com/#contact

22. März 2023

Abgerufen von „https://welektronik.iis.fraunhofer.de/w/index.php?title=Item:Q925&oldid=10016“

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