Tongfu Microelectronics Assembly/Test Nantong (Q932): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Ein neues Datenobjekt erstellt: Tongfu Microelectronics Assembly/Test Nantong)
 
(‎Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q57947)
 
(4 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt)
Beschreibung / deBeschreibung / de
 
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics
Eigenschaft / typ
 
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang
 
Normaler Rang
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Fundstelle
 
quelle: http://subsites.chinadaily.com.cn/nantong/2020-08/10/c_527964.htm
abgerufen: 22. März 2023
Zeitstempel+2023-03-22T00:00:00Z
Zeitzone+00:00
KalenderGregorianisch
Genauigkeit1 Tag
Vor0
Nach0
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q57947 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:13 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Tongfu Microelectronics Assembly/Test Nantong
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics

    Aussagen