Tongfu Microelectronics Assembly/Test Suzhou (Q933): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in Stadt (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q863462) |
||
| (Eine dazwischenliegende Version desselben Benutzers wird nicht angezeigt) | |||
| Eigenschaft / gelegen in Stadt | |||
| Eigenschaft / gelegen in Stadt: http://www.wikidata.org/entity/Q863462 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:13 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Tongfu Microelectronics Assembly/Test Suzhou
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics
|