Chipbond Technology Corporation Assembly/Test Hsinchu Science Park (Q961): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Ein neues Datenobjekt erstellt: Chipbond Technology Corporation Assembly/Test Hsinchu Science Park) |
Admin (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q717461) |
||
(3 dazwischenliegende Versionen von einem anderen Benutzer werden nicht angezeigt) | |||
Beschreibung / de | Beschreibung / de | ||
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Chipbond Technology Corporation | |||
Eigenschaft / typ | |||
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q717461 / Rang | |||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 7. Juli 2024, 09:17 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Chipbond Technology Corporation
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Chipbond Technology Corporation Assembly/Test Hsinchu Science Park
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Chipbond Technology Corporation
|