Siliconware Precision Industries Assembly/Test Changhua (Q970): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q195215) |
||
(3 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||
Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Siliconware Precision Industries Assembly/Test Changhua | |||
Beschreibung / de | Beschreibung / de | ||
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Siliconware Precision Industries | |||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q195215 / Rang | |||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 5. Juli 2024, 19:06 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Siliconware Precision Industries
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Siliconware Precision Industries Assembly/Test Changhua
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Siliconware Precision Industries
|