STMicroelectronics Assembly/Test Shenzhen (Q354): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
(Ein neues Datenobjekt erstellt: STMicroelectronics Assembly/Test Shenzhen, Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern) |
(Aussage erstellt: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
||
| Eigenschaft / typ | |||
| Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Version vom 2. August 2022, 12:13 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
STMicroelectronics Assembly/Test Shenzhen
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|