Samsung Assembly/Test Onyang (Q393): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: gelegen in (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q7095135) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q7095135) |
||
| Eigenschaft / gelegen in | Eigenschaft / gelegen in | ||
Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 16:13 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Samsung Assembly/Test Onyang
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|