Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Incheon (Q887): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: gelegen in (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q20934) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Bezeichnung für [de] geändert: Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Incheon) |
||
Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Incheon |
Version vom 15. März 2023, 14:46 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Incheon
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
|