Tongfu Microelectronics Assembly/Test Hefei (Q931): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Aussage geändert: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298))
(‎Aussage erstellt: gelegen in (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q185684)
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: https://www.wikidata.org/entity/Q185684 / Rang
 
Normaler Rang

Version vom 22. März 2023, 09:03 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Tongfu Microelectronics Assembly/Test Hefei
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Tongfu Microelectronics

    Aussagen