Fujitsu Assembly/Test Aizu (Q412): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: gelegen in (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q237699) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q237699) |
||
| Eigenschaft / gelegen in | Eigenschaft / gelegen in | ||
Aktuelle Version vom 29. Juni 2024, 16:20 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Fujitsu Assembly/Test Aizu
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|