STMicroelectronics Assembly/Test Muar (Q356): Unterschied zwischen den Versionen
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(Aussage erstellt: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: gelegen in Stadt (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q1832744) |
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| Eigenschaft / gelegen in Stadt | |||
| Eigenschaft / gelegen in Stadt: https://www.wikidata.org/entity/Q1832744 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Version vom 20. September 2022, 14:04 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
STMicroelectronics Assembly/Test Muar
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Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
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