Nexperia Assembly/Test Cabuyao (Q430): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
(Aussage erstellt: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: gelegen in (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q25096) |
||
| Eigenschaft / gelegen in | |||
| Eigenschaft / gelegen in: https://www.wikidata.org/entity/Q25096 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Version vom 25. September 2022, 20:20 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Nexperia Assembly/Test Cabuyao
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|