Nexperia Assembly/Test Seremban (Q429): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
(Aussage erstellt: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: gelegen in (P17): https://www.wikidata.org/entity/Q847610) |
||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: https://www.wikidata.org/entity/Q847610 / Rang | |||
Normaler Rang |
Version vom 25. September 2022, 20:22 Uhr
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Nexperia Assembly/Test Seremban
|
Standort zur Prüfung / Montage von Halbleitern
|