Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Chuzhou (Q884): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Beschreibung für [de] hinzugefügt: Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET)
(‎Bezeichnung für [de] geändert: Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Chuzhou)
Bezeichnung / deBezeichnung / de
JCET Assembly/Test Chuzhou
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Chuzhou

Version vom 15. März 2023, 14:45 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Chuzhou
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

    Aussagen

    typ
    Montage/Test Standort
    0 Fundstellen
     
    Abgerufen von „https://welektronik.iis.fraunhofer.de/w/index.php?title=Item:Q884&oldid=7820“