Hana Micron Assembly/Test Bac Ninh (Q966)

Aus Welektronik

Version vom 22. März 2023, 11:56 Uhr von Kim (Diskussion | Beiträge) (‎Aussage erstellt: Property:P17: https://www.wikidata.org/entity/Q800053)

(Unterschied) ← Nächstältere Version | Aktuelle Version (Unterschied) | Nächstjüngere Version → (Unterschied)

Zur Navigation springen Zur Suche springen

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Hana Micron

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	Hana Micron Assembly/Test Bac Ninh	Standort für Assembly & Test von Halbleitern von Hana Micron

Aussagen

Montage/Test Standort

0 Fundstellen

https://www.wikidata.org/entity/Q800053

0 Fundstellen

Abgerufen von „https://welektronik.iis.fraunhofer.de/w/index.php?title=Item:Q966&oldid=8541“

Cookies helfen uns bei der Bereitstellung von Welektronik. Durch die Nutzung von Welektronik erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Cookies speichern.