JCET Assembly/Test Binjiang (Q883)

Aus Welektronik

Version vom 15. März 2023, 14:19 Uhr von Kim (Diskussion | Beiträge) (‎Bezeichnung für [en] hinzugefügt: JCET Assembly/Test Binjiang)

(Unterschied) ← Nächstältere Version | Aktuelle Version (Unterschied) | Nächstjüngere Version → (Unterschied)

Zur Navigation springen Zur Suche springen

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	JCET Assembly/Test Binjiang	Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

Aussagen

Montage/Test Standort

0 Fundstellen

gelegen in Stadt

https://www.wikidata.org/entity/Q13985303

0 Fundstellen

Abgerufen von „https://welektronik.iis.fraunhofer.de/w/index.php?title=Item:Q883&oldid=7783“

Cookies helfen uns bei der Bereitstellung von Welektronik. Durch die Nutzung von Welektronik erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Cookies speichern.