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: '''417+''' Unternehmen der Halbleiterindustrie klassifiziert als [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q285 Integrated Device Manufacturers], [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q286 Fabless], [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q287 Foundries], [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q879 Outsourced Semiconductor Assembly and Test] | : '''417+''' Unternehmen der Halbleiterindustrie klassifiziert als [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q285 Integrated Device Manufacturers], [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q286 Fabless], [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q287 Foundries], [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q879 Outsourced Semiconductor Assembly and Test], [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q1023 Equipment Hersteller] und [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q1060 Werkstoff Hersteller] | ||
: '''495+''' [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q296 Produktionsstandorte] klassifiziert als [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q297 Wafer Fabriken] und [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q298 Montage/Test Standorte] | : '''495+''' [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q296 Produktionsstandorte] klassifiziert als [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q297 Wafer Fabriken] und [https://welektronik.iis.fraunhofer.de/wiki/Item:Q298 Montage/Test Standorte] | ||
Version vom 3. Juni 2024, 13:32 Uhr
"Welektronik" - das Wiki zum Thema vertrauenswürdige Elektronik als Wissensgraph
- 71 Organisationen in 14 ZEUS Projekten mit Thema vertrauenswürdige Elektronik
- 417+ Unternehmen der Halbleiterindustrie klassifiziert als Integrated Device Manufacturers, Fabless, Foundries, Outsourced Semiconductor Assembly and Test, Equipment Hersteller und Werkstoff Hersteller
- 495+ Produktionsstandorte klassifiziert als Wafer Fabriken und Montage/Test Standorte
- 1100+ Lieferbeziehungen zwischen Unternehmen der Halbleiterindustrie
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Der Aufbau dieses Wikis wurde vom Bundesministerium für Bildung und Forschung im Rahmen des Forschungsprojekts Velektronik gefördert (FKZ 16ME0224).