Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Aussage erstellt: wikidata item (P6): https://www.wikidata.org/entity/Q8053845)
Markierung: Zurückgesetzt
(‎Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q8053845)
 
(3 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt)
Bezeichnung / deBezeichnung / de
JCET Assembly/Test Yishun
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
Eigenschaft / wikidata item
 
Eigenschaft / wikidata item: https://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang
Normaler Rang
 
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang
 
Normaler Rang

Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:29 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

    Aussagen