Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun (Q886)

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

    Aussagen

    typ
    Montage/Test Standort
    0 Fundstellen
     
    Abgerufen von „https://welektronik.iis.fraunhofer.de/w/index.php?title=Item:Q886&oldid=17840“