JCET Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen
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Kim (Diskussion | Beiträge) (Beschreibung für [de] hinzugefügt: Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
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| Eigenschaft / typ | |||
| Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Version vom 15. März 2023, 14:34 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
JCET Assembly/Test Yishun
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Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
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