JCET Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen
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Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: wikidata item (P6): https://www.wikidata.org/entity/Q8053845) Markierung: Zurückgesetzt |
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| Eigenschaft / wikidata item | |||
| Eigenschaft / wikidata item: https://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Version vom 15. März 2023, 14:35 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
JCET Assembly/Test Yishun
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Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
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