Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: wikidata item (P6): https://www.wikidata.org/entity/Q8053845) Markierung: Zurückgesetzt |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Bezeichnung für [de] geändert: Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun) |
||
(2 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||
Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun | |||
Eigenschaft / wikidata item | |||
Eigenschaft / wikidata item: https://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang | |||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: https://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang | |||
Normaler Rang |
Version vom 15. März 2023, 14:45 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
|