Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen

Aus Welektronik
Zur Navigation springen Zur Suche springen
(‎Aussage erstellt: wikidata item (P6): https://www.wikidata.org/entity/Q8053845)
Markierung: Zurückgesetzt
(‎Bezeichnung für [de] geändert: Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun)
(2 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt)
Bezeichnung / deBezeichnung / de
JCET Assembly/Test Yishun
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
Eigenschaft / wikidata item
 
Eigenschaft / wikidata item: https://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang
Normaler Rang
 
Eigenschaft / gelegen in
 
Eigenschaft / gelegen in: https://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang
 
Normaler Rang

Version vom 15. März 2023, 14:45 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

    Aussagen