Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen
Zur Navigation springen
Zur Suche springen
Kim (Diskussion | Beiträge) (Ein neues Datenobjekt erstellt: JCET Assembly/Test Yishun) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q8053845) |
||
(6 dazwischenliegende Versionen desselben Benutzers werden nicht angezeigt) | |||
Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun | |||
Beschreibung / de | Beschreibung / de | ||
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET | |||
Eigenschaft / typ | |||
Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Eigenschaft / gelegen in | |||
Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang | |||
Normaler Rang |
Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:29 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
---|---|---|---|
Deutsch |
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
|
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
|