Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen

Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:29 Uhr

Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

Sprache	Bezeichnung	Beschreibung	Auch bekannt als
Deutsch	Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun	Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

0 Fundstellen

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@@ Bezeichnung / de / Bezeichnung / de @@
-JCET Assembly/Test Yishun
+Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
@@ Eigenschaft / typ @@
+Montage/Test Standort
@@ Eigenschaft / typ: Montage/Test Standort / Rang @@
+Normaler Rang
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+http://www.wikidata.org/entity/Q8053845
@@ Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang @@
+Normaler Rang