Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun (Q886): Unterschied zwischen den Versionen
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Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage erstellt: typ (P5): Montage/Test Standort (Q298)) |
Kim (Diskussion | Beiträge) (Aussage geändert: gelegen in (P17): http://www.wikidata.org/entity/Q8053845) |
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| Bezeichnung / de | Bezeichnung / de | ||
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun | |||
| Eigenschaft / gelegen in | |||
| Eigenschaft / gelegen in: http://www.wikidata.org/entity/Q8053845 / Rang | |||
Normaler Rang | |||
Aktuelle Version vom 2. Juli 2024, 12:29 Uhr
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
| Sprache | Bezeichnung | Beschreibung | Auch bekannt als |
|---|---|---|---|
| Deutsch |
Jiangsu Changjiang Electronics Technology Assembly/Test Yishun
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Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
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