JCET Assembly/Test Yishun (Q886)

Aus Welektronik
Version vom 15. März 2023, 14:39 Uhr von Kim (Diskussion | Beiträge) (‎Aussage entfernt: Property:P6: https://www.wikidata.org/entity/Q8053845)
Zur Navigation springen Zur Suche springen
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET
Sprache Bezeichnung Beschreibung Auch bekannt als
Deutsch
JCET Assembly/Test Yishun
Standort für Assembly & Test von Halbleitern von JCET

    Aussagen

    typ
    Montage/Test Standort
    0 Fundstellen
     
    Abgerufen von „https://welektronik.iis.fraunhofer.de/w/index.php?title=Item:Q886&oldid=7809“